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X光測(cè)金屬電鍍層厚度
產(chǎn)品簡(jiǎn)介

X光測(cè)金屬電鍍層厚度是天瑞儀器實(shí)惠的鍍層測(cè)厚儀;儀器采用下照式結(jié)構(gòu),適合平面樣品的檢測(cè),配置的軟件界面簡(jiǎn)潔,測(cè)試樣品用時(shí)40S,售后服務(wù)及時(shí)。

產(chǎn)品型號(hào):
更新時(shí)間:2024-07-07
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪問(wèn)量:126

產(chǎn)品分類(lèi)

PRODUCT CLASSIFICATION

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X光測(cè)金屬電鍍層厚度是天瑞儀器實(shí)惠的鍍層測(cè)厚儀;儀器采用下照式結(jié)構(gòu),適合平面樣品的檢測(cè),配置的軟件界面簡(jiǎn)潔,測(cè)試樣品用時(shí)40S,售后服務(wù)及時(shí)。

鍍層厚度測(cè)試方法般有以下幾種方法:
1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T6462-2005
2、X-ray法(X射線法)。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T16921-2005
3、庫(kù)侖法,此法般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T4955-2005
X光測(cè)金屬電鍍層厚度測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
1標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000
 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法
2.美標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08
Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
儀器分析原理
Thick600采用的是種XRF光譜分析技術(shù),X光管產(chǎn)生的X射線打到被測(cè)樣品時(shí)可以擊出原子的內(nèi)層電子,出現(xiàn)殼層空穴,當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來(lái)填充軌道空穴時(shí),就會(huì)產(chǎn)生特征X射線。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來(lái)得到待測(cè)元素的特征信息。
樣品測(cè)試步驟
1)              每天開(kāi)機(jī)預(yù)熱30分鐘后打開(kāi)測(cè)試軟件“FpThick":
用戶使用“Administrator",密碼:skyray
2)              進(jìn)入測(cè)試軟件后,選擇“測(cè)試條件"
點(diǎn)擊“確定",即測(cè)試條件確定(儀器已設(shè)置好)
3)              選擇“工作曲線"
如待測(cè)樣品是鐵鍍鎳,則選擇Ni-Fe;其他依次類(lèi)推
4)              放入“Ag片"對(duì)儀器進(jìn)行初始化
初始化完成后,(峰通道為1105,計(jì)數(shù)率達(dá)到定的數(shù),如300以上)。
5)              待測(cè)樣品測(cè)試
放入待測(cè)的樣品,通過(guò)攝像頭畫(huà)面觀察當(dāng)前放入的樣品的表面情況,以及儀器的X射線的聚焦點(diǎn)??梢酝ㄟ^(guò)軟件提供的十字坐標(biāo)(也稱十字光標(biāo))來(lái)定位該聚焦點(diǎn),將樣品放在聚焦點(diǎn)位置。點(diǎn)擊“開(kāi)始",輸入樣品名稱后“確定"。
6)              測(cè)試完成后即可保持報(bào)告,報(bào)告的位置可以在桌面的“分析報(bào)告"快捷方式中的“鍍層報(bào)告"中找到。
注意:測(cè)試鍍層樣品時(shí),必須先要確定是什么鍍層、選擇好對(duì)應(yīng)的工作曲線測(cè)試。

 

儀器性能特點(diǎn)                                       
1. 穩(wěn)定X銅光管;
2.半導(dǎo)體硅片電制冷探測(cè)器,摒棄元素識(shí)別能力較弱的計(jì)數(shù)盒;
3.內(nèi)置天瑞儀器研發(fā)部研發(fā)的—信噪比增強(qiáng)器(SNE)與MCA多道分析器;
4.內(nèi)置高清晰攝像頭,方便用戶隨時(shí)觀測(cè)樣品;
5.脈沖處理器,數(shù)據(jù)處理快速;
6.手動(dòng)開(kāi)關(guān)樣品腔,操作安方便;
7.三重安保護(hù)模式;
8.整體鋼架結(jié)構(gòu)、外型簡(jiǎn)潔;
9.FP軟件,無(wú)標(biāo)準(zhǔn)樣品時(shí)亦可測(cè)量。

 


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