天瑞儀器電鍍膜厚測(cè)試儀可以滿足0到50微米之間的深槽測(cè)試，采用變焦技術(shù)可以快速分析金屬鍍層厚度結(jié)果。XYZ軸可以自由移動(dòng)，通過(guò)激光定位以實(shí)現(xiàn)連續(xù)測(cè)試功能。

無(wú)論是生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量控制，還是來(lái)料檢驗(yàn)和材料性能檢驗(yàn)中的隨機(jī)抽檢和檢，都能提供友好的操作體驗(yàn)和的測(cè)試效果。天瑞儀器是內(nèi)生產(chǎn)x射線鍍鎳層測(cè)厚儀的專(zhuān)業(yè)廠家，thick800a是利用新代光管發(fā)射和探測(cè)技術(shù)，結(jié)合天瑞多年的x射線光譜分析儀生產(chǎn)技術(shù)，創(chuàng)造的運(yùn)用了數(shù)字多道分析系統(tǒng)，從而設(shè)計(jì)的光譜測(cè)厚器。X射線熒光鍍層檢測(cè)技術(shù)的應(yīng)用大大提高了批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件，無(wú)損、快速和更的特點(diǎn)，對(duì)在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗(yàn)的保障。采用的FP軟件算法，即使在無(wú)鍍層標(biāo)樣的情況下也可以測(cè)直接試樣品的鍍層厚度，測(cè)試結(jié)果經(jīng)得起科學(xué)驗(yàn)證。開(kāi)放式樣品腔設(shè)計(jì)，多點(diǎn)測(cè)試時(shí)移動(dòng)樣品方便快捷，有助于提升效率。天瑞儀器電鍍膜厚測(cè)試儀設(shè)計(jì)更科學(xué)，軟硬件配合，機(jī)電聯(lián)動(dòng)，輻射安高于標(biāo)GBZ115-2002要求。 軟件操作具有操作人員分級(jí)管理權(quán)限，般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸，測(cè)試的記錄報(bào)告同時(shí)自動(dòng)添加測(cè)試人的登錄名稱。