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金屬電鍍層測(cè)試機(jī)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介

金屬電鍍層測(cè)試機(jī)采用下照式結(jié)構(gòu),適合平面樣品的檢測(cè),配置的軟件界面簡(jiǎn)潔,測(cè)試樣品用時(shí)40S,售后服務(wù)及時(shí)。

產(chǎn)品型號(hào):
更新時(shí)間:2024-07-07
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪問(wèn)量:65

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天瑞儀器92年就開(kāi)始做光譜儀,經(jīng)過(guò)多年的積累,在鍍層厚度檢測(cè)方面,我們直保持內(nèi):主要原因是我們的性價(jià)比與售后服務(wù)具有很強(qiáng)的競(jìng)爭(zhēng)力,這個(gè)優(yōu)勢(shì)不僅僅體現(xiàn)在購(gòu)買價(jià)格上,也體現(xiàn)在產(chǎn)品生命周期花費(fèi)的總體成本上。Thick600是天瑞儀器價(jià)格優(yōu)的鍍層測(cè)厚儀;儀器采用下照式結(jié)構(gòu),適合平面樣品的檢測(cè),配置的軟件界面簡(jiǎn)潔,測(cè)試樣品用時(shí)40S,售后服務(wù)及時(shí)。
鍍層厚度測(cè)試方法般有以下幾種方法:
1 光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T6462-2005
2 X-ray法(X射線法)。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T16921-2005
3 庫(kù)侖法,此法般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T4955-2005

 

金屬電鍍層測(cè)試機(jī)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
1標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000
 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法
2.美標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08
Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
金屬電鍍層測(cè)試機(jī)應(yīng)用領(lǐng)域
鍍層厚度分析;
RoHS指令中Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl檢測(cè);
合金成分分析;

 

樣品測(cè)試步驟
1.每天開(kāi)機(jī)預(yù)熱30分鐘后打開(kāi)測(cè)試軟件“FpThick":
用戶使用“Administrator",密碼:skyray
2.進(jìn)入測(cè)試軟件后,選擇“測(cè)試條件"
點(diǎn)擊“確定",即測(cè)試條件確定(儀器已設(shè)置好)
3.選擇“工作曲線"
如待測(cè)樣品是鐵鍍鎳,則選擇Ni-Fe;其他依次類推
4.放入“Ag片"對(duì)儀器進(jìn)行初始化
初始化完成后,(峰通道為1105,計(jì)數(shù)率達(dá)到定的數(shù),如300以上)。
5.待測(cè)樣品測(cè)試
放入待測(cè)的樣品,通過(guò)攝像頭畫面觀察當(dāng)前放入的樣品的表面情況,以及儀器的X射線的聚焦點(diǎn)??梢酝ㄟ^(guò)軟件提供的十字坐標(biāo)(也稱十字光標(biāo))來(lái)定位該聚焦點(diǎn),將樣品放在聚焦點(diǎn)位置。點(diǎn)擊“開(kāi)始",輸入樣品名稱后“確定"。
6.測(cè)試完成后即可保持報(bào)告,報(bào)告的位置可以在桌面的“分析報(bào)告"快捷方式中的“鍍層報(bào)告"中找到。
注意:測(cè)試鍍層樣品時(shí),必須先要確定是什么鍍層、選擇好對(duì)應(yīng)的工作曲線測(cè)試。

 

技術(shù)參數(shù) 
1   分析元素范圍:S-U
2   可分析多達(dá)3層以上鍍層
3   分析厚度檢出限高達(dá)0.02μm
4   多次測(cè)量重復(fù)性高可達(dá)0.05μm
5   定位精度:0.5mm
5   測(cè)量時(shí)間:30s-300s
6   計(jì)數(shù)率:1000-8000cps
7  儀器適合測(cè)試平面。以單層Fe鍍Ni的標(biāo)樣為例,分析的范圍是0.02—30um,在這個(gè)范圍內(nèi),才能檢測(cè)。0.5-10um的,偏差是5%,就是說(shuō)真值是1um,用儀器測(cè)試的值是0.95-1.05um。
性能優(yōu)勢(shì)
下照式:可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求
準(zhǔn)直器和濾光片手動(dòng)切換:不同樣品材質(zhì)用不同的準(zhǔn)直器
移動(dòng)平臺(tái):精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái),方便定位測(cè)試點(diǎn)
高分辨率探測(cè)器:提高分析的性
新代的高壓電源和X光管:性能穩(wěn)定,高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率

 

儀器硬件配置                                       
1. 探測(cè)器
2. 高、低壓電源
3. X光管                              
4. MCA多道分析器
5. 高精密攝像頭
6. 移動(dòng)平臺(tái)(自動(dòng))
7. 準(zhǔn)直器
8. 標(biāo)準(zhǔn)樣品


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