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微聚焦多導(dǎo)毛細(xì)管鍍層厚度測厚儀鍍層測試方法
X 射線熒光鍍層厚度測量是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出的2次X 射線(X射線熒光)的 qiang度來測量鍍層厚度的方法。通過X 射線熒光qiang度測量鍍膜厚度的方法有檢量線法和基本參數(shù)法(FP 法)。
能量色散型X射線熒光鍍層測厚儀可在不損壞樣品的情況下進(jìn)行非接觸式測量。而且測量時間較短, 僅為3-20s。
多導(dǎo)毛細(xì)聚焦鍍層檢測技術(shù)
1、結(jié)合鍍層行業(yè)微小樣品的檢測需求,研發(fā)適用于鍍層檢測的chao近光路系統(tǒng),減少能量過程損耗。 搭載多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦管,ji大的提升了儀器的檢測性能,聚焦qiang度提升1000~10000倍,geng gao 的檢測靈敏度和分析jing du 以及gao 計數(shù)率bao zheng 測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和wen ding 性。
2、全景+微區(qū)雙相機設(shè)計,呈現(xiàn)全高清廣角視野,讓樣品觀察geng quan mian ;微米級別分辨率,較好的man zu chao微產(chǎn)品的測試,讓測試geng guang fan geng 便捷。
3、優(yōu)質(zhì)的多導(dǎo)毛細(xì)管技術(shù),信號qiang度比金屬準(zhǔn)直系統(tǒng)高出幾個數(shù)量級。
4、多規(guī)格可選的多導(dǎo)毛細(xì)管,較好的man zu 用戶不同測試需求。
5、gao jing 度XYZ 軸移動測試平臺,結(jié)合雙激光點位定位系統(tǒng),可實現(xiàn)在樣品測試過程中的quan zi動化感受, 一鍵點擊,測試geng省心。
微聚焦多導(dǎo)毛細(xì)管 鍍層厚度測厚儀產(chǎn)品應(yīng)用行業(yè):
· 測量chao微小部件和結(jié)構(gòu),如:印制線路板、連接器或引線框架等;
· 分析chao薄鍍層,如:厚度薄至2nm 的Au 鍍層和≤30nm 的Pd 鍍層;
· 測量電子和半導(dǎo)體行業(yè)中的功能性鍍層;
· 分析復(fù)雜的多鍍層系統(tǒng);
·quan zi動測量,如:用于質(zhì)量kong zhi ling yu ;
· 符合ENIG/ENEPIG要求,符合DIN ISO 3497,ASTM B568,IPC4552和IPC4556 標(biāo)準(zhǔn)。