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電鍍化學(xué)鎳的厚度檢測(cè)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介

天瑞儀器生產(chǎn)的電鍍化學(xué)鎳的厚度檢測(cè)(關(guān)鍵部件元是進(jìn)口的)已通過(guò)了江蘇省科技廳的驗(yàn)收,目前已累計(jì)銷(xiāo)售貳萬(wàn)多臺(tái)。華為,三星,海爾,美菱等企業(yè)先后組織人員到我司考察后,選擇了我司儀器。主要原因是在滿足客戶(hù)檢測(cè)需求的情況下,價(jià)格更優(yōu)惠,售后服務(wù)成本更低廉。

產(chǎn)品型號(hào):
更新時(shí)間:2024-07-05
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪問(wèn)量:78

產(chǎn)品分類(lèi)

PRODUCT CLASSIFICATION

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天瑞儀器生產(chǎn)的電鍍化學(xué)鎳的厚度檢測(cè)(關(guān)鍵部件元是進(jìn)口的)已通過(guò)了江蘇省科技廳的驗(yàn)收,目前已累計(jì)銷(xiāo)售貳萬(wàn)多臺(tái)。華為,三星,海爾,美菱等企業(yè)先后組織人員到我司考察后,選擇了我司儀器。主要原因是在滿足客戶(hù)檢測(cè)需求的情況下,價(jià)格更優(yōu)惠,售后服務(wù)成本更低廉。

 

電鍍化學(xué)鎳的厚度檢測(cè)鍍層厚度測(cè)試方法般有以下幾種方法:

1.光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T6462-2005

2.X-ray法(X射線法)。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T16921-2005

3.庫(kù)侖法,此法般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T4955-2005

 

測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)

1.標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000

 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法

2.美標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08

Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

 

儀器配置                                            

1    硬件:主機(jī)壹臺(tái),含下列主要部件: 

①X光管                    

②半導(dǎo)體探測(cè)器

③放大電路                  

④高精度樣品移動(dòng)平臺(tái)

⑤高清晰攝像頭              

⑥高壓系統(tǒng)

⑦上照、開(kāi)放式樣品腔        

⑧雙激光定位

⑨玻璃屏蔽罩

2   軟件:天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.0

3   計(jì)算機(jī)、打印機(jī)各臺(tái)

計(jì)算機(jī)(品牌,P4,液晶顯示屏)、打印機(jī)(佳能,彩色噴墨打印機(jī))

4   資料:使用說(shuō)明書(shū)(包括軟件操作說(shuō)明書(shū)和硬件使用說(shuō)明書(shū))、出廠檢驗(yàn)合格證明、裝箱單、保修單及其它應(yīng)提供資料各份。

5   標(biāo)準(zhǔn)附件

準(zhǔn)直孔:0.1X1.0mm(已內(nèi)置于儀器中)

 

儀器技術(shù)參數(shù)

1.x射線電鍍層測(cè)厚儀針對(duì)不規(guī)則樣品進(jìn)行高度激光定位測(cè)試點(diǎn)分析;

2.軟件可分析高5層25種元素鍍層;

3.通過(guò)軟件操作樣品移動(dòng)平臺(tái),實(shí)現(xiàn)不同測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試需求;

4.配置高分辨率Si-PIN半導(dǎo)體探測(cè)器,實(shí)現(xiàn)對(duì)多鍍層樣品的分析;

5.內(nèi)置高清晰攝像頭,方便用戶(hù)觀測(cè)樣品狀態(tài);

6.高度激光敏感性傳感器保護(hù)測(cè)試窗口不被樣品撞擊。

7.外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm

8.樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm

9.樣品臺(tái)尺寸:230(W)×210(D)mm

10.移動(dòng)范圍:50(X)mm, 50(Y)mm

11.Z軸升降平臺(tái)升降范圍:0-140mm

 

儀器性能特點(diǎn)及優(yōu)勢(shì)

1.高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm

2.采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求

3.φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求

4.定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊

5.鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)

6.高分辨率探頭使分析結(jié)果更加,微小測(cè)試點(diǎn)更。

7.X射線鍍層測(cè)厚儀廠家優(yōu)勢(shì)在于滿足客戶(hù)要求的情況下,價(jià)格更優(yōu)惠、售后服務(wù)更方便,維護(hù)成本更低。

 

安裝要求

1   環(huán)境溫度要求:15℃-30℃

2   環(huán)境相對(duì)濕度:<70%

3   工作電源:交流220±5V

4   周?chē)荒苡袕?qiáng)電磁干擾。


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